Stresstech, Barkhausen Noise yöntemi ile taşlama yanığı ve ısıl işlem kusuru tespiti, X-ray Diffraction yöntemi ile kalıntı gerilme ve kalıntı östenit ölçümü, ESPI (electronic speckle pattern interferometry) delik delme yöntemi ile kalıntı gerilme ölçümü alanlarında çözümler üretmektedir. Bu çözümler 30 yılı aşkın süredir otomotiv, savunma, uzay ve havacılık başta olmak üzere üniversite ve araştırma merkezleri tarafından da kullanılmaktadır.



X-Ray Dıffractıon İle Kalıntı Gerilme Ölçüm Sistemi

  • X-ray diffraction yöntemi, kalıntı gerilme ve kalıntı östenit ölçümlerinde kullanılmaktadır. Bragg kanununa göre X ışınlarını kullanarak, metaller başta olmak üzere seramikler de dahil kristal yapıdaki malzemelere uygulanmaktadır. Laboratuvar veya sahaya uygun cihazlar bulunmaktadır.
     
  • Patentli yarı iletken dedektörleri sayesinde çelik bir numunenin ölçüm işlemi 2 dakikadan daha az sürmektedir. Goniyometre ve ölçüm noktası arasındaki mesafe yazılım tarafından otomatik olarak ayarlanmaktadır. Gerilme analizlerinde, derinlik profilleriyle çalışıldığı zaman gerekli olan elektropolisaj işlemi için opsiyonel olan ve işlemi çok kolay bir hale getiren elektropolisaj masası sisteme eklenebilir. Co, Cr,Cu, Fe, Mn, Mo, Ni, Ti, V, x-ray tüp opsiyonları bulunmaktadır.


Uygulama alanları: kam mili, krank mili, biyel, dişliler, makina parçaları, rulmanlar, gövde parçaları v.b.


Barkhausen Noise Yöntemi İle Taşlama Yanığı NDT Cihazları

Barkhausen noise, tahribatsız muayene yöntemi olup ferromanyetik parçalarda taşlama yanığı ve ısıl işlem kusuru tespitinde kullanılmaktadır. Ferromanyetik malzemelere manyetik alan uygulandığında Barkhausen noise sinyalleri oluşmaktadır. Barkhausen Noise Analysis (BNA), micromagnetic yöntem olarak da bilinmektedir.

 

Uygulama alanları: Kam mili, krank mili, biyel, dişliler, makina parçaları, rulmanlar, gövde parçaları v.b.


Espi Hole Drilling Yöntemi İle Kalıntı Gerilme Ölçüm Cihazları

PRISM cihazı, ESPI (electronic speckle pattern interferometry) delik delme yöntemiyle kalıntı gerilme ölçümünde kullanılmaktadır. ESPI, optik bir yöntem olup strain gage kullanılmamaktadır.

Detaylı Bilgi

BİAS Ürünleri

Galerimizi İnceleyin!

İlgili Ürün/Hizmetleri İnceleyin!

BİAS Ürünleri

İlginizi Çekebilir!